通过X射线衍射（XRD），纳米粒度仪（PSA），扫描电子显微镜（SEM）和UV-可见分光光度计表征合成的产物。 XRD图谱证实了合成样品的四方结构。使用Debye-Scherrer公式从X射线谱展宽确定合成的纳米颗粒的平均微晶尺寸。随着煅烧温度从300℃升高到800℃，微晶尺寸在8到33nm之间变化。与未掺杂的TiO 2相比，掺入3至5％Ag +代替Ti 4+引起纳米晶体尺寸的减小。 SEM显微照片显示颗粒的团聚球形形态。 SEM，PSA和XRD测量显示粉末的颗粒尺寸为纳米级。光学吸收测量表明在银掺杂时吸收带边缘发生红移。通过UV-Vis光谱仪测量的未掺杂和Ag掺杂的TiO 2纳米颗粒的直接允许带隙在500℃下分别为3.00和2.80eV。通过溶胶 - 凝胶法合成未掺杂和掺杂银的TiO 2纳米颗粒。

公司拥有一批从事电子工程开发、研究和机械自动化控制设计、制造的专业技术人才，专业基础扎实，软件开发、硬件制作精益求精。在追求不断创新的同时，更加注重“质量至上，诚信服务”，对各种行业的粉体材料，积累了丰富的分析测试经验，在粉体粒度检测领域取得了辉煌的业绩。
公司生产的JL系列激光粒度测试仪，参照ISO13320等国际标准、全量程米氏散射理论原理，于1990年首获国家专利， 1992年经中国测试研究院检定合格，1993年中国颗粒测试专业委员会测试评定合格，现有粉体粒度测试专有专利技术20多项。在历届全国粒度仪量值比对活动中，成都精新JL系列激光粒度仪、颗粒图像分析仪均获得最优A级，在国内外市场享有盛誉，测试精度达到国外同类仪器测量水平。