六偏磷酸钠和十二烷基苯磺酸钠为分散剂,纳米粒度仪利用激光粒度仪对自制近纳米氢氧化铝进行粒径分析。考察了分散体系、氢氧化铝溶液浓度、超声分散时间等因素对近纳米氢氧化铝粒径测定的影响,并与电镜所测的近纳米氢氧化铝粒径作比较,确定了近纳米氢氧化铝粒径的最佳测定条件。

纳米粒度仪就某 种意义上讲就是实现原子或分子操作的超精细加工技术。纳米科技的各个领域都涉 及对纳米尺度物质的形态、成分、结构及其物理／化学性能（功能）的测量、表征。 纳米测量在纳米科技中起着信息采集和分析的不可替代的重要作用。它包含纳米尺 度可视化、纳米尺度测量和纳米尺度物质性能分析等内容。现在纳米技术的发展已 经能够制造纳米尺度的样品。亚微米到纳米精度的维度测量已经成为目前工业发展 和科学发展中迫切需要解决的问题。例如，在光学精密加工中平面、光学形貌、曲 率半径等的测量占有重要地位。目前使用商售相位测量干涉仪（ＰＭＩ）并用误差 分离技术可以使ＰＭＩ测量平面和近似平面的不确定度达到ｌｎｍ，在球面光学测 量中可得到更高的不确定度。美国ＮＩＳＴ Ｘ．ｒａｙ准确光学系统校准干涉仪（Ｘ ＣＡＬＩＢＩＲ）被设计用于平面、球面以及非球面光学系统的测量，对平面、光 学形貌、曲率半径测量在孔径达３００ｍｍ的范围扩展。